宏虹ADC/DAC測試系統
宏虹ADC/DAC測試系統整合了強大的管理系統，統一調配硬體資源與測試流程，讓使用者從繁瑣的軟硬體相容性問題中解脫出來。
- 平臺幾乎覆蓋了所有常見的測試專案
- 使用者只需根據實際需求進行簡單配置
- 一鍵啟動自動化測試流程
這一設計掃除了傳統測試中需要使用者手動搭建軟體平臺以適配多種硬體設備的不便，大幅降低了操作難度和時間成本。
宏虹ADC/DAC測試系統
高性能類比和混合訊號測試解決方案
宏虹ADC/DAC測試系統是一套9槽ATE晶片測試平臺，模組化設計確保靈活性與擴展性，專注於數模及模數轉換晶片的深度測試。系統囊括ADC/DAC全範圍線性動態評估，搭載DIO時鐘同步模組，可測8-24 bit ADC/DAC，以高達400 MHz的採樣速率，重塑高效晶片測試新標準。
系統優勢
宏虹ADC/DAC測試系統是加速產品開發、優化資源配置的理想選擇、並提供晶片測試載板PCB定制服務
- 全能一體，靈活高效
宏虹ADC/DAC測試系統採用高度整合設計，將多種測試功能濃縮於一體，極大地簡化了設備的安裝和使用流程。接線簡便特性意味著用戶可以快速部署，無需面對複雜的連線難題。平臺支援模組化定制，使用者可以根據具體需求自由選擇和組合測試模組，實現個性化測試方案。更重要的是，該系統提供多項參數可調功能，確保能夠精准適配不同用戶的具體測試需求。通過整合多項測試於一身，一部系統即可完成多樣測試任務，有效避免了額外採購測試配件的成本和繁瑣，顯著降低了維護成本和整體運營開支。
- 極速測試，加速研發進程
僅需要花使用者1周時間就可以完成待測板的設計製作，與宏虹ADC/DAC測試平臺進行對插。如果用傳統的儀器及測試方法，則使用者需要花大概3-4周的時間去完成待測板+儀器線路的設計搭建，額外還需要花更多的時間可能長達1-2個月去做多台儀器的聯動控制，自己開發測試執行軟體的難度也非常大；而宏虹的平臺直接提供了完整的測試項，極大節省了用戶的研發測試時間，效率提升10倍不止！
傳統儀器及方法
測試靈活性差，需要準備較多物料和儀器、多種儀器需要獨立控制再聯動
宏虹ADC/DAC測試系统
大幅簡化測試板的設計，提供完整測試項
- 開箱即用，所得即所需
精密的校準機制
宏虹ADC/DAC測試系統內置了精密的校準機制，確保每一次測試都能達到極高的準確度與可靠性，為用戶提供值得信賴的測試結果。
- 自動通過先進的巨量數據分析與處理
- 無需使用者再編寫額外的程式來完成資料的補償、匯總和運算
- 智慧化的資料處理能力
這種智慧化的資料處理能力，能夠即時輸出關鍵性的測試結論，使使用者能夠迅速把握產品性能的核心指標，為後續的決策提供更實質的資料支援。
支持豐富的測試項目
宏虹ADC/DAC測試系統涵蓋廣泛測試專案的綜合性解決方案，符合高標準要求
ADC線性測試
失調誤差；缺碼分析
增益誤差；觸發點
滿量程誤差
積分非線性誤差
差分非線性誤差
整體誤差
DAC線性測試
失調誤差
增益誤差
滿量程誤差
積分非線性誤差
差分非線性誤差
整體誤差
ADC直方圖測試
積分非線性誤差
差分非線性誤差
整體誤差
觸發點
缺碼分析
動態測試
信噪失真比
實際有效位數
信噪比
總諧波失真
無雜散動態範圍
峰值失真
產品特點及參數
宏虹ADC/DAC測試系統集高效能、高精度與靈活性於一體
ADC/DAC測試系統配套軟件ATView
TS-ATX7006A配有ATView，這是一個軟體包，用於配置、編程和控制TS-ATX7006A並分析測試結果。
項目工程- 適用於Windows PC
- 測試分析
- 顯示時域、頻域和直方圖測試的結果
項目工程設置測試只需要在儀表板上填寫字段，如果適用的話，編程一個數字模式，然後按下TSTART按鈕。在測試後，結果在WaveAnalyzer中查看。WaveAnalyzer可以顯示時域、頻域和直方圖的結果。 縮放、堆棧和光標功能在任何級別都可用。保存測試結果，包括所有設置。 測試結果和測試條件以XML格式存儲，允許用戶進一步處理。導出文件格式可以是CSV格式， 同時也可以是圖片，方便導入到報告中。
