描述

產品特性:

• 可監控，及時讀取、記錄、發送和顯示LIN數據
• 支援診斷LIN設備，支持DTL （診斷傳輸層），如3C/3D服務。
• 可修改和測試所有控制參數、訊號、幀定時、程式定時
• Baby-LIN-II的LIN總線收發器支援200K的位元速率。(標準LIN設備是最高支持20K，但是有越來越多的高速LIN設備超過20K通訊速率，它們採用的是非LIN標準協議，通過更高的位元速率刷新一個節點。且需要對應的設備來監測和通訊。Baby-LIN-II利用ASCII-Mode 達成以上應用)
• 單一產品涵蓋了市場上多種設備的功能:  LIN總線模擬器，LIN總線診斷儀，LIN總線測試儀，LIN總線分析儀，LIN總線轉接器。
• LIN節點/系統的主從模擬和分析，模擬出並不實際存在的總線參與者。(如: 模擬ECU等向外發數據，虛擬模擬、半實物模擬，以及“只聽”模式)
• 支援以事件的訊號設定、順序控制、錯誤判斷和触發動作
• 透過各種事件觸發條件（信號事件，報文幀事件，改變的事件等）來觸發將要執行的操作（如: 運行或停止，發送另外的報文，更改某個訊號值等）
• 訊號事件: 包括訊號值與訊號值之間比較的結果，訊號值與常量之間的比較結果，信號的變化範圍等
• 報文幀事件: 包括選擇的報文幀出現在總線上，報文幀出現錯誤（如: 檢驗和錯誤，節點無響應等）
• 改變的事件: 包括某個訊號值發生變化，或某報文幀發生變化
• 典型測試範例:
  • 被測產品出現異常時，通過LIN報文探測錯誤，並由Baby-LIN-II控制設備停止運行或者觸發發送某一個命令
  • 定時一段時間後，開始進行8000次的循環測試：正反轉，啟動運行，不同角度的開度動作
  • 生產線人員啟動Baby-LIN-II模組自動完成產品出廠前的一系列測試，從啟動到運轉到停止的連貫測試。

規格:

• CPU: ARM Cortex-M4
• Memory: 1 MByte SRAM, 64 kBit FRAM
• USB和LIN總線間有電氣隔離
• SD-card slot with SDHC support (max. cards with 32 GB),FAT-16/32
• 內部及時時鐘
• 供電電壓：8 – 28 V DC
• 功耗：60 mA @ 24 V
• 可透過開關切換輸出12 V電源
• 溫度範圍: -25° 至  70° C
• 防護等級: IP 20
• 尺寸(L x W x H): 190 x 95 x 40 mm
• 重量: 0.5 kg

訂貨型號:

Harp-5有不同的設定可以選擇，如果只需要用到LIN總線，可選購基本模組即可。後續還需要其它功能，可再購買。

下載: