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本期特刊，我們將帶來兩個皮克林模塊用於半導體測試的實用案例，希望對您的測試系統能夠帶來幫助。

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在物聯網，毫米波，矽光子，人工智能等技術的推動下，國家大力發展半導體產業，半導體行業正迎來新一輪發展機遇。而在這些新技術在攻堅突破的同時，全行業也在努力滿足對芯片更高性能，更小尺寸，更低成本等要求，半導體測試作為半導體行業關鍵一環，也正面臨著嚴峻的挑戰。虹科積極響應市場需求，致力於提供多種高效率，低成本的半導體測試解決方案。

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案例一：半導體封裝開短路測試解決方案

 

客戶需求及解決方案

Amkor Technology公司是世界上最大的合約半導體組裝與測試服務供應商之一.Amkor公司需要開發一個新的測試系統 – 該系統的一個部分是要用於半導體封裝的開路和短路測試。項目中需要一個超大型的矩陣 3072×4矩陣開關的配置來執行四線測量，因為它會被用於許多測試應用裡邊 在經過一系列方案比較後，採用三塊Pickering公司LXI接口的高密度矩陣模塊（型號60-553-008），這些LXI矩陣模塊由電磁繼電器構成，在市場上有較低的價格，而且能夠允許1027個交叉點同時閉合。另外，這款矩陣模塊還具有內部繼電器自檢功能，使得系統的維護變得更加方便快捷。

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案例二：利用PXI進行微波繼電器測量

 

客戶需求及解決方案

Radiall，是一家來自法國的微波繼電器的製造商。在交付給用戶之前，需要在環境試驗箱內，在不同的環境條件下，對每個微波開關的接觸特性進行綜合測試。目標是提高用於測量Radiall微波開關測試台性能。 經過分析和協商最後決定採用一個新方案，用一個64×4基於場效應管（FET）的多路復用器來解決問題。使用場效應管（FET）可以使得系統具有幾乎無限長的使用壽命，而四端點測量可以抵償場效應管（FET）開關上固有的通道電阻。 PXI在測試平台上成功實施，使得集成方便快捷，並為終端客戶帶來了良好的體驗。

 

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