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功能概述 :
Spectrolight SP245 是一款高性能光譜儀,專為高速數據採集應用而設計。其搭載 Sony ILX511 偵測器,提供 2048 像素的高解析度,並具備高達 250:1 的信噪比,確保精確的光譜測量。儀器的波長範圍為 200–1050 nm,適用於各種光譜分析需求。SP245 支援 USB 1.1/2.0 介面,並可進行多達 8 通道的 USB 串聯配置,提供靈活的數據處理能力。其設計緊湊,適合各種實驗室和現場應用,特別適合需要高速度和高靈敏度的光譜分析場景。
屬性 | 規格 |
---|---|
檢測器 | 索尼 ILX511(紫外線增強塗層) |
像素數 | 2048 |
感測像素尺寸 | 14 μm × 200 μm |
靈敏度 | 180 V/(lx·s) @ 660 nm |
井深 | 62,500 e⁻ |
波長範圍 | 200 – 1050 nm |
暗噪聲 RMS | < 35 RMS @ 35 ms |
訊號雜訊比 | > 250 : 1 |
光纖耦合器 | FC 標準 或 SMA905 |
排序濾光片 | 長通濾光片或線性可變濾光片(依波長範圍) |
光學解析度 | 0.3 – 10 nm(取決狹縫與光柵) |
雜散光水準 | < 0.1%(平均值) |
電腦介面 | USB 1.1/2.0 相容 |
最短曝光時間 | 1 ms |
觸發模式 | 自由運行 / 軟體觸發 / 硬體觸發 |
作業系統 | Windows 7/10 (32/64 位元) |
SDK 支援 | Visual C++ / Visual Basic / LabVIEW |
狹縫選項 | 5、10、25、50、100、200、400 μm |
溫度偏移 | ±1 像素 / ±15 °C(可選低熱膨脹版) |
尺寸 / 重量 | 90 × 70 × 44 mm / 0.4 kg |
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