ADC/DAC測試系統
功能概述
ADC/DAC測試系統是一套9槽ATE晶片測試平臺,模組化設計確保靈活性與擴展性,專注於數模及模數轉換晶片的深度測試。系統囊括ADC/DAC全範圍線性動態評估,搭載DIO時鐘同步模組,可測8-24 bit ADC/DAC,以高達400 MHz的採樣速率,重塑高效晶片測試新標準。
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系統優勢
ADC/DAC測試系統採用高度整合設計,將多種測試功能濃縮於一體,極大地簡化了設備的安裝和使用流程。接線簡便特性意味著用戶可以快速部署,無需面對複雜的連線難題。平臺支援模組化定制,使用者可以根據具體需求自由選擇和組合測試模組,實現個性化測試方案。更重要的是,該系統提供多項參數可調功能,確保能夠精准適配不同用戶的具體測試需求。通過整合多項測試於一身,一部系統即可完成多樣測試任務,有效避免了額外採購測試配件的成本和繁瑣,顯著降低了維護成本和整體運營開支。