ADC/DAC測試系統
功能概述
ADC/DAC測試系統是一套9槽ATE晶片測試平臺,模組化設計確保靈活性與擴展性,專注於數模及模數轉換晶片的深度測試。系統囊括ADC/DAC全範圍線性動態評估,搭載DIO時鐘同步模組,可測8-24 bit ADC/DAC,以高達400 MHz的採樣速率,重塑高效晶片測試新標準。
功能概述
ADC/DAC測試系統是一套9槽ATE晶片測試平臺,模組化設計確保靈活性與擴展性,專注於數模及模數轉換晶片的深度測試。系統囊括ADC/DAC全範圍線性動態評估,搭載DIO時鐘同步模組,可測8-24 bit ADC/DAC,以高達400 MHz的採樣速率,重塑高效晶片測試新標準。