TS-AWG16 16位任意波形發生器模組 – 高速高解析度波型捕獲
功能概述：
TS-AWG16任意波形發生器模組是一款高速高解析度的波形生成設備，支援最高達400 MHz的採樣速度和16位元解析度。該模組提供可選濾波器、差分輸出和卓越的THD和信噪比，特別適合於ADC線性度和動態性能測試。
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具有可程式設計共模電壓的差分輸出
具有可程式設計共模電壓的差分輸出 TS-AWG16具有可程式設計共模電壓的差分輸出。對於單端應用，正輸出和負輸出都可以使用。時鐘可以來自背板或來自前面板。該模組具有8個輸出範圍，從0.48 Vpp到5.12 Vpp，涵蓋了廣泛的測試單元輸入電壓範圍。具有3個低通濾波器(15 MHz, 30 MHz和60 MHz)的濾波器組提供出色的訊號調理，以獲得最佳的訊號完整性。該模組使用自校準DAC，結果是一個優秀的信噪比，THD和線性度。對於直流電平，有各種校準dac，可以為高速模組提供無與倫比的直流精度。
| 項目 | 詳細資訊 |
|---|---|
| Resolution | 18 bit |
| Update rate | 1 MHz - 300 MHz |
| Pattern memory depth | 8M words |
| 輸出特性 | 詳細資訊 |
|---|---|
| Output impedance | 50 Ohm |
| Ranges Single Ended (Vpp into open circuit) | 0.48 V，0.64 V，0.96 V，1.28 V，1.92 V，2.56 V，3.84 V，5.12 V |
| Ranges differential (Vpp into open circuit) | 0.96 V，1.28 V，1.92 V，2.56 V，3.84 V，5.12 V，7.68 V，10.24 V |
| Output filters (3 pole Butterw.) | Bypass，15 MHz，30 MHz，60 MHz |
| Bandwidth，-3 dB (typical) | 120 MHz (excl. sinx/x effect) |
| 0.1 dB flatness (typical) | 30 MHz (excl. sinx/x effect) |
| Output configuration | Differential，Single Ended，50 Ohm |
| Output operating range | +/- 5.12 V |
| 動態特性 | 詳細資訊 |
| SNR (fout = 1 MHz) | 70 dB |
| SNR (fout = 10 MHz) | 68 dB |
| THD (fout = 1 MHz) | -87 dB |
| THD (fout = 10 MHz) | -82 dB |
| SFDR (fout = 1 MHz) | 88 dB |
| 時鐘輸入 | 詳細資訊 |
| Input impedance | 50 Ohm |
| Threshold level | 0 V or 1 V (programmable) |
| Input level around threshold | ±100 mV to ±2 V (±4 V max.) |
| Jitter from clock-in to f-out | 110 fs (typical，f-out = 100 MHz， jitter BW = 1 kHz - 10 MHz) |
| 觸發輸入 | 詳細資訊 |
| Input impedance | 1 kOhm |
| Input level | 0 V or 1 V (programmable) |
| Input level around threshold | ±100 mV to ±2 V (±4 V max.) |
| 共模電壓源 | 詳細資訊 |
| Resolution | ≤100 µV |
| Voltage range | -2.56 V to +2.56 V |
| DC-offset accuracy | ±(200 µV + 0.02 % of value) |
| Non Linearity | ±0.01 % of range |
| 精度（不啟用內置濾波器） | 詳細資訊 |
| Absolute accuracy | ±(500 µV + 0.08 % of range) |
| Non Linearity | ±0.003 % of range |
| Temperature drift (typical) | ±(10 ppm of range + 20 ppm of value)/ºC |
- 適用於高精度波形生成與模擬測量的各類應用場景。
- 廣泛應用於ADC線性度和動態性能測試。
- 在高速與高解析度波形生成需求的領域中發揮優異性能。
