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- 故障/訊號注入開關, 開關/矩陣/衰減矩陣, 電子測試/測量
PCI故障注入開關卡
- PCI故障/信號注入開關卡具有擴展分線特點，能夠將故障連接到傳感線路上，包括斷開連接及添加缺陷——可模擬系統中的連接問題...
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用於硬體在環模擬的BOB模組
- 該模組化中斷系統將BoB功能集與FIU的額外靈活性結合在一起。透過使用我們的外掛程式模組將FIU主機殼直接連接到BoB，...
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PXI差分故障注入開關模組
- PXI/PXIe差分故障注入開關可支援多通道的兩線序列介面。每個通道可以在一條導線或兩條導線上模擬開路故障，在兩條導線上...
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PXI故障/信號注入矩陣模組
- 這些PXI故障/信號注入矩陣的設計基於BRIC結構，我們提供許多不同的尺寸版本，以滿足您不同的應用需求。 我們所有的故障...
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PXI 故障注入開關 40-190B-002 2A 2 Bus 74通道
- 主要用於仿真汽車和航空電子應用中的故障狀況，涉及安全關鍵控制器的可靠性測試。 由我們的eBIRST交換系統測試工具支持 ...
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PXI 故障注入開關 40-199-002 10A 2 Bus 10通道
- 10通道故障插入開關，用於模擬汽車/航空電子應用中的故障狀況，涉及安全關鍵控制器的可靠性測試 生產時間6周~8周
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