Spectrolight SP245|光譜儀

Functional Overview.
Spectrolight SP245 是一款高性能光譜儀,專為高速數據採集應用而設計。其搭載 Sony ILX511 偵測器,提供 2048 像素的高解析度,並具備高達 250:1 的信噪比,確保精確的光譜測量。儀器的波長範圍為 200–1050 nm,適用於各種光譜分析需求。SP245 支援 USB 1.1/2.0 介面,並可進行多達 8 通道的 USB 串聯配置,提供靈活的數據處理能力。其設計緊湊,適合各種實驗室和現場應用,特別適合需要高速度和高靈敏度的光譜分析場景。

Description

Product Overview

  • 低暗噪音和雜訊光
  • 靈活的光纖輸入,直接輸入狹縫或透過光纖
  • 全新設計,適用於廣泛的應用
  • 高速資料擷取
  • 標準設計允許高達 200 – 1050 nm 的範圍
  • 16位元USB 1.1/2.0接口
  • 支援最多8個USB多通道配置
  • 新型紫外線增強塗層

Specification

高光譜檢測器 規格表
PropertiesSpecification
檢測器索尼 ILX511(紫外線增強塗層)
像素數2048
感測像素尺寸14 μm × 200 μm
sensitivity180 V/(lx·s) @ 660 nm
井深62,500 e⁻
波長範圍200 – 1050 nm
暗噪聲 RMS< 35 RMS @ 35 ms
訊號雜訊比> 250 : 1
光纖耦合器FC 標準 或 SMA905
排序濾光片長通濾光片或線性可變濾光片(依波長範圍)
光學解析度0.3 – 10 nm(取決狹縫與光柵)
雜散光水準< 0.1%(平均值)
電腦介面USB 1.1/2.0 相容
最短曝光時間1 ms
觸發模式自由運行 / 軟體觸發 / 硬體觸發
Operation SystemWindows 7/10 (32/64 位元)
SDK 支援Visual C++ / Visual Basic / LabVIEW
狹縫選項5、10、25、50、100、200、400 μm
溫度偏移±1 像素 / ±15 °C(可選低熱膨脹版)
尺寸 / 重量90 × 70 × 44 mm / 0.4 kg

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