宏虹 Spectrolight

光源、可調諧帶通濾波器、高光譜成像系統、光學元件

具創新可調光源系統,結合寬頻光源與靈活帶通濾光片,可透過軟體自動調諧波長,並提供高穩定性輸出與GUI/USB控制

涵蓋完整光學元件套件(光譜儀、光學對準、光纖等),支援快速系統整合與部署,並透過 USB/GUI 操作簡化調試流程

採用TwinFilm™薄膜帶通濾波技術,提供即時可調波段選擇與高透光率 (>75%)、優異出帶抑制 (OD10) 能力,兼容各類寬頻光源與超連續雷射

宏虹Spectrolight

光源發生& 波長調諧& 光譜測量

Spectrolight 專注於光譜應用技術(SAT),為科研與工業市場提供寬頻可調諧光源與濾波器。產品結合寬頻 Tungsten-Halogen 光源與超連續雷射,輸出高穩定光譜;TwinFilm™ 可調帶通濾波器可透過軟體或手動調整波長與帶寬;並整合高光譜成像系統與光學元件,協助用戶快速部署實驗與檢測,提高分析精度與效率。作為全球領先製造商,Spectrolight 致力於研發符合市場需求的創新技術。

宏虹Spectrolight

Product Lineup

Spectrolight 可調光源

light source

可調諧帶通濾波器

Spectrolight 波長選擇器(FWS)
Spectrolight 高光譜成像系統

高光譜成像系統

Spectrolight 的高光譜成像系統根據使用者的環境提供客製化產品。

Spectrolight 的高光譜成像系統由以下三個獨立部分組成。

1.鏡頭

– 如果使用者告知 SLI 所需鏡頭的規格,SLI 可以推薦合適的鏡頭。

– 使用者必須準確地確定鏡頭的基本規格(例如視野、工作距離)

– SLI 一般使用多種單焦鏡頭,但視情況可以使用各種類型的鏡頭。

– 鏡頭的鍍膜規格必須根據所使用的波長帶而改變。

2. 可調諧帶通濾波器模組

– 使用者可以使用軟體控制光譜帶的數量。

– 使用者可以在 255-1700 nm 之間選擇所需的波長範圍。

– 使用者可以從右側的過濾器清單中選擇最多 9 個過濾器。如需更大範圍的過濾器,則必須使用兩個過濾器模組。

– 根據目的,使用者可以選擇固定頻寬或可調頻寬。

– 靈活的波長選擇器模組可選擇性地傳輸所需的波長帶,並阻擋約 OD 6 至 1700 nm 的其他不必要的波長。

– 目前,在 255 – 390 nm 範圍內(F00-F03),僅可阻擋高達 600 nm 的無用波長。如需了解更多詳情,請另行與我們聯絡。

過濾器列表(靈活的波長選擇器)

3. 相機

– 使用者可以使用適合所選波長範圍的各種相機。

– 一般來說,可見光範圍內必須使用基於 Si 的相機,而 SWIR 範圍內必須使用基於 InGaAs 的相機或相容相機。

– 如果使用者已經擁有相機,則可以使用它。

– 最終光譜影像的大小由鏡頭和相機感光元件的組合決定。

optical element

Spectrolight 光學元件

構建於 可調光源 與 可調帶通濾波 的光譜解決方案

八大優勢,開創 High Spectrum Imaging 的新標竿

高出帶抑制能力

FWS 濾波器可提供 OD 6–OD 10 的帶外阻隔,有效降低雜訊,提升光譜純度。

即時波長與頻寬調整

FWS 採 TwinFilm™ 技術,中心波長與帶寬可獨立調整(2–16 nm),實現快速且精準的波段選擇。

高功率穩定性

SL-Pico 輸出功率高達 8 W,穩定度小於 1 %,可確保長時間實驗或檢測的穩定性。

寬頻波段覆蓋

SL-Pico 超連續光源支援 430–2400 nm 波段,滿足從紫外到近紅外的大範圍應用需求。

軟體與 USB 直覺控制

可透過專屬軟體或 USB 介面快速調整中心波長與帶寬,操作直觀、調諧速度快,適用自動化實驗流程。

緊湊輕巧設計

例如 FWS Mono 機身尺寸僅 40 × 76 × 50 mm,體積小、重量輕,易於整合至不同光學系統中。

TML 全面整合方案

TML 將寬頻光源與可調帶通濾波器整合於一機,體積緊湊、自動化控制,可大幅降低系統成本與安裝空間需求。

免校準即插即用

FWS 不需額外校準或對準,具備 > 75 % 高透射效率,且無偏振依賴,使用者可直接與任何寬頻光源搭配獲得更高訊號。

Applied Industries

螢光顯微鏡

以光源照射被檢物體, 使之發出螢光,並在顯微鏡下觀察物體的形狀及其所在位置,用於研究細胞內物質的吸收、運輸、化學物質的分佈及定位等。

機器視覺與照明

選擇合適波長的光源探測物體,獲得更為清晰的、高對比的圖像,提高視覺檢測的精度。

光譜資訊檢測

將成像技術與光譜技術相結合,探測目標的二維幾何空間及一維光譜資訊,獲取高光譜解析度的連續、窄波段的圖像資料。

濾光片參數

通過測量濾光片的性能指標可以確定濾光片對光譜的回應,對濾光片的工作性能進行評估和測試,以保證其在工作過程中的穩定性和確定性。

High Spectrum Imaging

可實現遠近視場切換、準確選擇中心波長和恆定的掃描間隔,產生相同的影像品質輸出,最大化呈現被測物體的影像和光譜訊息,且設備極為靈活

實驗室光譜檢測

TwinFilm專利技術,寬波長調諧,平滑可調頻寬,助力光電測試的科學研究

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