三月刊 |半導體封裝測試方案

首先感謝您對虹科的關注!

本期特刊,我們將帶來兩個皮克林模塊用於半導體測試的實用案例,希望對您的測試系統能夠帶來幫助。

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在物聯網,毫米波,矽光子,人工智能等技術的推動下,國家大力發展半導體產業,半導體行業正迎來新一輪發展機遇。而在這些新技術在攻堅突破的同時,全行業也在努力滿足對芯片更高性能,更小尺寸,更低成本等要求,半導體測試作為半導體行業關鍵一環,也正面臨著嚴峻的挑戰。虹科積極響應市場需求,致力於提供多種高效率,低成本的半導體測試解決方案。

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案例一:半導體封裝開短路測試解決方案

客戶需求及解決方案

Amkor Technology公司是世界上最大的合約半導體組裝與測試服務供應商之一.Amkor公司需要開發一個新的測試系統 – 該系統的一個部分是要用於半導體封裝的開路和短路測試。項目中需要一個超大型的矩陣 3072×4矩陣開關的配置來執行四線測量,因為它會被用於許多測試應用裡邊 在經過一系列方案比較後,採用三塊Pickering公司LXI接口的高密度矩陣模塊(型號60-553-008),這些LXI矩陣模塊由電磁繼電器構成,在市場上有較低的價格,而且能夠允許1027個交叉點同時閉合。另外,這款矩陣模塊還具有內部繼電器自檢功能,使得系統的維護變得更加方便快捷。

 想要知道更多信息?

更多信息參考以下案例詳情網址 ↓

http://www.hongketest.com/portal.php?mod=view&aid=62

案例二:利用PXI進行微波繼電器測量

客戶需求及解決方案

Radiall,是一家來自法國的微波繼電器的製造商。在交付給用戶之前,需要在環境試驗箱內,在不同的環境條件下,對每個微波開關的接觸特性進行綜合測試。目標是提高用於測量Radiall微波開關測試台性能。 經過分析和協商最後決定採用一個新方案,用一個64×4基於場效應管(FET)的多路復用器來解決問題。使用場效應管(FET)可以使得系統具有幾乎無限長的使用壽命,而四端點測量可以抵償場效應管(FET)開關上固有的通道電阻。 PXI在測試平台上成功實施,使得集成方便快捷,並為終端客戶帶來了良好的體驗。

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更多信息參考以下案例詳情網址 ↓

http://www.hongketest.com/portal.php?mod=view&aid=63

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虹科電子科技有限公司
測試測量團隊
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2019年03月12日-14日
中国北京
北京国际会议中心
156号 展位

2019年3月20日-22日
中国上海
上海新国际博览中心
E4馆 4278号 展位

2019年3月20日-22日
中国上海
上海新国际博览中心
T1馆 325号 展位

歡迎大家來展會上詢問我們, 及技術交流, 可領取精美小禮物喔!

虹科電子再次謝謝您的閱讀!

ChiLin Lee

新目標與方向! 實踐雙方最佳利益!

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